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  • 自动阻抗测量系统

    所属领域:电子信息
    所属平台成员单位:北京大学
    厂商型号:MAURY公司/M100
    性能参数:自动阻抗测量系统频率范围0.8G~18GHz(MT982B01),包括控制器及相应软件
    功能用途:可进行自动阻抗测量


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  • 阻抗分析仪

    所属领域:电子信息
    所属平台成员单位:北京大学
    厂商型号:安捷伦公司/4294A
    性能参数:115V-230V/50~60Hz/300VA Max
    功能用途:可进行自动阻抗测量


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  • 电化学分析仪

    所属领域:电子信息
    所属平台成员单位:北京大学
    厂商型号:Radiometer Analytica/VOLTALAB40
    性能参数:输出电压±30V;最大电流±1A; 极化电压±15V;电流分辨率30PA;电压分辨率60μV;带宽(-3db)800Hz
    功能用途:根据溶液的电化学性质(如电极电位、电流、电导、电量等)与被测物质的化学或物理性质( 如电解质溶液的化学组成 、浓度、氧化态与还原态的比率等)之间的关系,将被测定物质的浓度转化为一种电学参量加以测量


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  • 倒置荧光显微镜

    所属领域:电子信息
    所属平台成员单位:北京大学
    厂商型号:CarlZeiss公司/AX10VERT200
    性能参数:10x/0.25PHI(10倍平场相差物镜),40X/0.60corrPH2(长工作距离相差物镜),100x/1.30OIL(平场荧光物镜);紫外蓝\绿色荧光激发模块
    功能用途:用于研究细胞内物质的吸收、运输、化学物质的分布及定位等


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  • 微型光谱仪

    所属领域:电子信息
    所属平台成员单位:北京大学
    厂商型号:Acton resecirch Co.Inc/MICROSPEC-2358I
    性能参数:光栅1200g/mm,300nm bla2e,200-500nm,1200g/mm,500nmbla2e,330-900nm,300/500-Mivvor,Notch-Filtar 514.5nm
    功能用途:记录物质光谱并对物质进行定性分析


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  • 紫外近红外成像光谱仪

    所属领域:电子信息
    所属平台成员单位:北京大学
    厂商型号:Horiba Jobin Yvon公司/JYIHR320
    性能参数:焦长:320mm,分辨率:0.06nm,探测器:Synapse CCD 1024*256pixel,光栅:300gl/mm@500nm;1200g/mm@330nm;300/@1000nm
    功能用途:记录物质紫外和红外光谱并对物质进行定性分析


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  • 紫外-可见光谱宏观测

    所属领域:电子信息
    所属平台成员单位:北京大学
    厂商型号:Nippon Optical公司/Bandgap-Marco
    性能参数:1.宏观光谱测量:光纤调制架(X,Y,Z俯仰和旋转)微透1.宏观光谱测量:光纤调制架(X,Y,Z俯仰和旋转)微透镜和装卡器;角位移台。2.光谱分析系统:SP-2358光谱仪(光栅:300线,1200线@300nm,1200线全息),Spec-10:100B/XP CCD,光纤耦合
    功能用途:记录物质紫外可见光谱并对物质进行定性分析


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  • 紫外-近红外显微荧光/

    所属领域:电子信息
    所属平台成员单位:北京大学
    厂商型号:Nippon Opticel公司/Bandgap-10
    性能参数:He-Cd激光器配套光学元件(325nm/442nm);Acton SP-2358光谱仪(435.8nm处分辨率0.1nm);SPEC-10 100B XP Cooled CCD Camera;NOS-100UV-Vis microscope;objective lens M Plan UV 80X物镜。1.UV-Vis激发组件;滤光片,光具座,光纤(20,80,800微米);2.激光偶合系统;3.U
    功能用途:记录物质紫外和红外光谱并对物质进行定性分析


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  • 椭偏仪

    所属领域:电子信息
    所属平台成员单位:北京大学
    厂商型号:Sopra公司/GES-5
    性能参数:光源:25W氙灯;束斑直径:2~6mm可调,光谱范围:210nm-2μm;侧角器定位精度:±0.01°,建模和分析软件Winelli 4.07提供材料常数、多种算法定律
    功能用途:用于探测波膜厚度、光学常数以及材料微结构。由于与样品非接触,对样品没有破坏且不需要真空


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  • 椭偏谱仪

    所属领域:电子信息
    所属平台成员单位:北京大学
    厂商型号:HORIBA Jobin Yuon/UVISEL FUV
    性能参数:入射角范围(40°-90°);光谱范围:190-830nm;样品尺寸:最大8寸分辨率:500nm处优于2nm;样品台Z向调节范围:0-4mm
    功能用途:用于探测波膜厚度、光学常数以及材料微结构。由于与样品非接触,对样品没有破坏且不需要真空


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  • 单分子荧光探测系统

    所属领域:电子信息
    所属平台成员单位:北京大学
    厂商型号:Roper Scientific Inc/CASCADE-512B
    性能参数:512x512imagcng array,16x16-μm Pixels
    功能用途:可探测某些低对比度或弱荧光样品


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